《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》GB/T2423.1-2008
《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗》GJB150.4A-2009
試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》GB/T2423.3-2006
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h環(huán)）》GB/T2423.4-2008
《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗》GJB150.9A-2009
《微電子器件試驗方法和程序》GJB548B-2005
《電子及電氣元件試驗方法》GJB360A-1996
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》GB/T2423.50-1999
《鐵路機(jī)車車輛電子裝置》TB／T3021－2001
《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》GJB367A－2001
《包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗第2部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理》GB/T4857.2－2005
《400V以下低壓并網(wǎng)光伏發(fā)電專用逆變器技術(shù)要求和試驗方法》CGC/GF001：2009/6.10.3
《可靠性鑒定和驗收試驗》GJB899A-2009
《可編程序控制器第2部分：設(shè)備要求和測試》GB／T15969.2-2008／IEC61131-2:2007